为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种igbt驱动电路,包括限压电路、控制电路和限流电路。,所述限压电路、所述控制电路和所述限流电路相并联。,所述限压电路包括:一齐纳二极管;第二齐纳二极管,所述第二齐纳二极管与所述一齐纳二极管串联。,所述控制电路包括限压电路控制输入lp、电阻r2、下拉电阻r3和控制管n3,所述限压电路控制输入lp与所述电阻r2串联,所述电阻r2与所述控制管n3相串联,所述下拉电阻r3并联在所述电阻r2与所述控制管n3之间。,所述限流电路包括电阻r1和正向二极管n22,所述电阻r1与所述正向二极管n22相串联。与现有技术相比,本发明的有益效果是:本发明将分立器件实现的限压电路集成在芯片中,节省了面积,降低了成本,将限压电路与igbt的驱动电路结合在一个功能块里进一步节省了面积和成本,同时借助igbt的驱动电路中的电阻限制了限压支路的电流,降低了功耗,保护了驱动芯片的安全,lp接收到mcu的信号置高时,限压电路开始工作,a点电压被限压在设定所需要的电压u1,如希望igbt驱动输出限制在12v,此时a电压的设定u1=12v+vbe,b点电压为u2=12v+2vbe,终c点电压为12v,此时限压部分的支路电流被限制在(vcc-u2)/r1以下。
降低本征JFET的影响,和使用元胞设计几何图形,从而达到以上的目标。对两种1200VNPTIGBT进行比较:一种是其他公司的需负偏置关断的器件,一种是IR公司的NPT单正向栅驱动IRGP30B120KD-E。测试结果表明其他公司的器件在源电阻为56?下驱动时,dV/dt感生电流很大。比较寄生电容的数据,IR器件的三种电容也有减小:输入电容,CIES减小25%输出电容,COES减小35%反向传输电容,CRES减小68%图4寄生电容比较图5显示出IR器件的减小电容与V的关系,得出的平滑曲线是由于减小了JFET的影响。当V=0V时,负偏置栅驱动器件的C为1100pF,IRGP30B120KD-E只有350pF,当VCE=30V时,负偏置栅驱动器件的C为170pF,IRGP30B120KD-E的CRES为78pF。很明显,IRGP30B120KD-E具有非常低的C,因此在相同的dV/dt条件下dV/dt感生电流将非常小。图5IRGP30B120KD-E寄生电容与VCE的关系图6的电路用来比较测试两种器件的电路性能。两者的dV/dt感生电流波形也在相同的dV/dt值下得出。图6dV/dt感生开通电流的测试电路测试条件:电压率,dV/dt=直流电压,Vbus=600V外部栅到发射极电阻Rg=56?环境温度。
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